Microscopes au sol Hitachi

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microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU9000II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,7, 1,2, 0,4 nm

... votre laboratoire, le SU9000II utilise une platine d'échantillonnage à entrée latérale ultra stable, similaire aux systèmes TEM haut de gamme, et intègre un amortissement optimisé des vibrations ainsi qu'une armoire fermée ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plate-forme FE-SEM révolutionnaire intègre ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
SU8600

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,7 nm

... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plate-forme CFE-SEM révolutionnaire intègre ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! Caractéristiques Concept clé 1.Capacité ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU5000

... deviennent des experts du jour au lendemain. La technologie d'ajustement automatique des axes (auto-calibration) rétablit le microscope dans son "meilleur état" à la demande. Une chambre d'échantillons robuste "draw-out" ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
SU series

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 3, 15, 4 nm

... Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur peut automatiser de nombreuses opérations et utiliser efficacement leurs hautes performances. ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope optique
microscope optique
FlexSEM 1000 II

Grossissement: 60 000, 50 000, 10 000, 15 000, 30 000 unit
Résolution spatiale: 4, 5 nm

... l'énergie propre, ce qui en fait un outil d'analyse économique, sans compromis sur les performances. Vue d'ensemble Le microscope électronique à balayage FlexSEM 1000 II est doté de systèmes de détection du signal et ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,1, 0,08 nm

... Le TEM/STEM unique d'Hitachi à 200 kV avec correction d'aberration : l'harmonie parfaite entre la résolution d'imagerie et la performance analytique 0.la résolution spatiale de 078 nm en STEM est obtenue avec une grande capacité d'inclinaison ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope TEM
microscope TEM
HT7800 series

Grossissement: 600 000, 800 000, 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,14, 0,19, 0,2 nm

... les analyses TEM modernes. Caractéristiques L'objectif à double mode d'Hitachi permet une observation facile à faible grossissement, un contraste élevé à grand champ, une haute résolution et bien plus encore, le tout ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
NX9000

Résolution spatiale: 2,1, 1,6 nm

... haute résolution afin de répondre aux demandes les plus récentes en matière d'analyse structurelle 3D et pour les analyses TEM et 3DAP. Le nouveau système FIB-SEM d'Hitachi, le NX9000, intègre une disposition optimisée ...

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