Microscopes pour la recherche Hitachi

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microscope SEM
microscope SEM
SU9000 II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... Le SU9000 II est une combinaison de MEB à imagerie de surface et de microscope à transmission à balayage (STEM) à résolution de structure intrinsèque, optimisée pour une résolution extrême. Cela est possible grâce à l'optique ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm

... Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage constamment propre pour une imagerie ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope CFE-SEM
microscope CFE-SEM
SU8600

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm

... Le SU8600 est le successeur de la famille éprouvée de MEB à émission de champ Regulus et répond aux exigences les plus élevées pour les applications orientées vers l'imagerie. L'émetteur à champ froid, dont l'émission est presque monochromatique, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm

... Le SU7000 est idéal pour les échantillons lourds ou de grande taille et pour l'intégration d'une large gamme d'accessoires. Ces accessoires comprennent des détecteurs analytiques ou des accessoires de scène pour la manipulation in situ ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU3800/3900 Family

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... La famille SU3800/3900 VP-SEM est axée sur la productivité. Ces outils automatisent les tâches répétitives, ce qui vous permet d'obtenir des résultats reproductibles en peu de temps et avec peu d'efforts manuels. Deux chambres à échantillons ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
FlexSEM II

Grossissement: 6, 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4 nm

... FlexSEM II est un MEB de table / compact pour les tâches d'imagerie qui dépassent les performances des MEB de table conventionnels. C'est le système idéal pour tous ceux qui ne veulent pas investir dans un MEB classique, mais qui ne veulent ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
TM4000PlusIII

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Longueur: 617 mm

... Conçu comme une extension logique de la stéréomicroscopie optique, le TM4000 III est un appareil d'entrée de gamme pour la microscopie électronique à balayage. Il vous permet d'imager des échantillons en un temps record ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Grâce au correcteur Cs, la surface peut être visualisée avec une résolution atomique. La commutation routinière et rapide entre TEM et STEM facilite le travail quotidien avec un correcteur Cs entièrement automatisé, même ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope TEM
microscope TEM
HT7800 Series

Grossissement: 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La famille HT7800 prend en charge un large éventail d'applications, des sciences de la vie à la science des matériaux. Elle est disponible en trois variantes de pièces polaires, toujours basées sur notre objectif breveté pour une commutation ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU3800SE/SU3900SE

Grossissement: 5 unit - 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 2,5 nm

... intuitive et une automatisation avancée, ce qui permet d'obtenir des résultats fiables et cohérents dans les environnements de recherche et industriels. Leur flexibilité permet des flux de travail efficaces pour les échantillons ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FA-STEM
microscope FA-STEM
SU5000

... va au-delà des conditions et des recettes prédéfinies de base. Sa facilité d'utilisation ouvre une nouvelle voie pour la recherche sur les matériaux, le développement et les domaines qui dépassent notre imagination. Vue ...

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Hitachi High-Technologies
microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
NX9000

Résolution spatiale: 2,1, 1,6 nm

... haute résolution afin de répondre aux demandes les plus récentes en matière d'analyse structurelle 3D et pour les analyses TEM et 3DAP. Le nouveau système FIB-SEM d'Hitachi, le NX9000, intègre une disposition optimisée ...

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Hitachi High-Technologies
microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
NX2000

Résolution spatiale: 60, 4, 2,8, 3,5 nm

... préparation d'échantillons TEM à haut débit et de haute qualité pour les applications de pointe. * Option Caractéristiques La détection en temps réel du point final du MEB à haut contraste permet la préparation d'échantillons ...

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