Microscopes pour la recherche Hitachi

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microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU9000II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,7, 1,2, 0,4 nm

... votre laboratoire, le SU9000II utilise une platine d'échantillonnage à entrée latérale ultra stable, similaire aux systèmes TEM haut de gamme, et intègre un amortissement optimisé des vibrations ainsi qu'une armoire fermée ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
SU8600

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,7 nm

... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plate-forme CFE-SEM révolutionnaire intègre ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! Caractéristiques Concept clé 1.Capacité ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU5000

... va au-delà des conditions et des recettes prédéfinies de base. Sa facilité d'utilisation ouvre une nouvelle voie pour la recherche sur les matériaux, le développement et les domaines qui dépassent notre imagination. Vue ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope optique
microscope optique
FlexSEM 1000 II

Grossissement: 60 000, 50 000, 10 000, 15 000, 30 000 unit
Résolution spatiale: 4, 5 nm

... l'énergie propre, ce qui en fait un outil d'analyse économique, sans compromis sur les performances. Vue d'ensemble Le microscope électronique à balayage FlexSEM 1000 II est doté de systèmes de détection du signal et ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,1, 0,08 nm

... Le TEM/STEM unique d'Hitachi à 200 kV avec correction d'aberration : l'harmonie parfaite entre la résolution d'imagerie et la performance analytique 0.la résolution spatiale de 078 nm en STEM est obtenue avec une grande capacité d'inclinaison ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope TEM
microscope TEM
HT78 series

Grossissement: 600 000, 800 000, 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,14, 0,19, 0,2 nm

... les analyses TEM modernes. Caractéristiques L'objectif à double mode d'Hitachi permet une observation facile à faible grossissement, un contraste élevé à grand champ, une haute résolution et bien plus encore, le tout ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FA-STEM
microscope FA-STEM
SU5000

... va au-delà des conditions et des recettes prédéfinies de base. Sa facilité d'utilisation ouvre une nouvelle voie pour la recherche sur les matériaux, le développement et les domaines qui dépassent notre imagination. Vue ...

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Hitachi High-Technologies
microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
NX9000

Résolution spatiale: 2,1, 1,6 nm

... haute résolution afin de répondre aux demandes les plus récentes en matière d'analyse structurelle 3D et pour les analyses TEM et 3DAP. Le nouveau système FIB-SEM d'Hitachi, le NX9000, intègre une disposition optimisée ...

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Hitachi High-Technologies
microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
NX2000

Résolution spatiale: 60, 4, 2,8, 3,5 nm

... préparation d'échantillons TEM à haut débit et de haute qualité pour les applications de pointe. * Option Caractéristiques La détection en temps réel du point final du MEB à haut contraste permet la préparation d'échantillons ...

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Hitachi High-Technologies
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