Microscopes de paillasse Hitachi

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,4, 1,2, 0,8 nm

... Le SU9000 II est une combinaison de MEB à imagerie de surface et de microscope à transmission à balayage (STEM) à résolution de structure intrinsèque, optimisée pour une résolution extrême. Cela est possible grâce à l'optique ...

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,7 nm

... Le SU8600 est le successeur de la famille éprouvée de MEB à émission de champ Regulus et répond aux exigences les plus élevées pour les applications orientées vers l'imagerie. L'émetteur à champ froid, dont l'émission est presque monochromatique, ...

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 4, 15, 3 nm

... La famille SU3800/3900 VP-SEM est axée sur la productivité. Ces outils automatisent les tâches répétitives, ce qui vous permet d'obtenir des résultats reproductibles en peu de temps et avec peu d'efforts manuels. Deux chambres à échantillons ...

Grossissement: 50 000, 60 000, 15 000, 10 000, 30 000 unit
Résolution spatiale: 4, 5 nm

... FlexSEM II est un MEB de table / compact pour les tâches d'imagerie qui dépassent les performances des MEB de table conventionnels. C'est le système idéal pour tous ceux qui ne veulent pas investir dans ...

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Poids: 54 kg
Longueur: 617, 614 mm

... Conçu comme une extension logique de la stéréomicroscopie optique, le TM4000 III est un appareil d'entrée de gamme pour la microscopie électronique à balayage. Il vous permet d'imager des échantillons en un temps record ...

Grossissement: 5 unit - 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 2,5, 1,6 nm

... Les MEB SU3800SE et SU3900SE d'Hitachi offrent des solutions d'imagerie et d'analyse polyvalentes pour diverses applications. Ces instruments offrent une imagerie haute résolution, une navigation intuitive et une automatisation avancée, ...

Résolution spatiale: 0,7, 1,5, 4, 50, 60 nm

... "ETHOS" vise des applications avancées de précision de position dans les domaines de la production automatisée de lamelles TEM ultrafines pour TEM/STEM à correction d'aberration, de l'examen SEM multi-signaux à haute ...

Résolution spatiale: 4, 1,6, 2,1 nm

... Dans ce système unique, les colonnes Ga-FIB et FE-SEM sont placées à angle droit l'une par rapport à l'autre. Cette configuration est idéale pour les applications où de grands volumes (tissus biologiques, matériaux avec de grandes structures ...

Résolution spatiale: 2,8, 3,5, 4, 60 nm

... Le NX2000 est un FIB-SEM optimisé pour les applications dans le domaine des semi-conducteurs (analyse des défauts avec importation de coordonnées KLARF, extraction de lamelles TEM, développement de dispositifs). Avec une course X,Y de ...