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Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,9, 0,8 nm
... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plate-forme FE-SEM révolutionnaire intègre ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 50 000, 60 000, 10 000, 30 000, 15 000 unit
Résolution spatiale: 4, 5 nm
... configuration conviviale pour le laboratoire. Dans un souci d'efficacité, le FlexSEM se caractérise par une conception adaptable, séparable et compacte, de sorte qu'il peut être installé dans des bureaux, des laboratoires ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Poids: 54 kg
Longueur: 617, 614 mm
... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm
... symétriquement opposés : "Symmetrical Dual SDD*" Nouveau boîtier conçu pour des performances optimales dans les environnements de laboratoire réels Une large gamme de porte-échantillons avancés Hitachi FEG froid à ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 600 000, 800 000, 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... les analyses TEM modernes. Caractéristiques L'objectif à double mode d'Hitachi permet une observation facile à faible grossissement, un contraste élevé à grand champ, une haute résolution et bien plus encore, le tout ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,4, 0,7 nm
... La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plate-forme FE-SEM révolutionnaire intègre ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plateforme CFE-SEM révolutionnaire intègre l'imagerie ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm
... et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! *La photo de l'appareil montre ...
Hitachi High-Technologies
... connaissance qui va au-delà des conditions et des recettes prédéfinies de base. Sa facilité d'utilisation ouvre une nouvelle voie pour la recherche sur les matériaux, le développement et les domaines qui dépassent notre ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Poids: 54 kg
Largeur: 330 mm
... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...
Hitachi High-Technologies
Résolution spatiale: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... l'orientation de l'échantillon entièrement intégré pour l'effet anti-curtaining (technologie ACE) Préparation d'échantillons TEM pour des lamelles uniformes quelle que soit leur orientation 4. Capacité de triple faisceau, ...
Hitachi High-Technologies
Résolution spatiale: 2,1, 1,6 nm
... haute résolution afin de répondre aux demandes les plus récentes en matière d'analyse structurelle 3D et pour les analyses TEM et 3DAP. Le nouveau système FIB-SEM d'Hitachi, le NX9000, intègre une disposition optimisée ...
Hitachi High-Technologies
Résolution spatiale: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... préparation d'échantillons TEM à haut débit et de haute qualité pour les applications de pointe. * Option Caractéristiques La détection en temps réel du point final du MEB à haut contraste permet la préparation d'échantillons ...
Hitachi High-Technologies
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