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Microscopes Hitachi
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Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 1,2, 0,7, 0,4, 0,8 nm
... votre laboratoire, le SU9000II utilise une platine d'échantillonnage à entrée latérale ultra stable, similaire aux systèmes TEM haut de gamme, et intègre un amortissement optimisé des vibrations ainsi qu'une armoire fermée ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,9, 0,8 nm
... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plate-forme FE-SEM révolutionnaire intègre ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plate-forme CFE-SEM révolutionnaire intègre ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm
... et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! Caractéristiques Concept clé 1.Capacité ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... deviennent des experts du jour au lendemain. La technologie d'ajustement automatique des axes (auto-calibration) rétablit le microscope dans son "meilleur état" à la demande. Une chambre d'échantillons robuste "draw-out" ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 4, 15, 3 nm
... Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur peut automatiser de nombreuses opérations et utiliser efficacement leurs hautes performances. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 50 000, 60 000, 10 000, 30 000, 15 000 unit
Résolution spatiale: 4, 5 nm
... l'énergie propre, ce qui en fait un outil d'analyse économique, sans compromis sur les performances. Vue d'ensemble Le microscope électronique à balayage FlexSEM 1000 II est doté de systèmes de détection du signal et ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Poids: 54 kg
Longueur: 617, 614 mm
... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm
... Le TEM/STEM unique d'Hitachi à 200 kV avec correction d'aberration : l'harmonie parfaite entre la résolution d'imagerie et la performance analytique 0.la résolution spatiale de 078 nm en STEM est obtenue avec une grande capacité d'inclinaison ...
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Grossissement: 600 000, 800 000, 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... les analyses TEM modernes. Caractéristiques L'objectif à double mode d'Hitachi permet une observation facile à faible grossissement, un contraste élevé à grand champ, une haute résolution et bien plus encore, le tout ...
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Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,4, 0,7 nm
... La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plate-forme FE-SEM révolutionnaire intègre ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plateforme CFE-SEM révolutionnaire intègre l'imagerie ...
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Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm
... et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! *La photo de l'appareil montre ...
Hitachi High-Technologies
... deviennent des experts du jour au lendemain. La technologie d'ajustement automatique des axes (auto-calibration) rétablit le microscope dans son "meilleur état" à la demande. Une chambre d'échantillons robuste "draw-out" ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Poids: 54 kg
Largeur: 330 mm
... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...
Hitachi High-Technologies
Résolution spatiale: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... l'orientation de l'échantillon entièrement intégré pour l'effet anti-curtaining (technologie ACE) Préparation d'échantillons TEM pour des lamelles uniformes quelle que soit leur orientation 4. Capacité de triple faisceau, ...
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Résolution spatiale: 2,1, 1,6 nm
... haute résolution afin de répondre aux demandes les plus récentes en matière d'analyse structurelle 3D et pour les analyses TEM et 3DAP. Le nouveau système FIB-SEM d'Hitachi, le NX9000, intègre une disposition optimisée ...
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Résolution spatiale: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... préparation d'échantillons TEM à haut débit et de haute qualité pour les applications de pointe. * Option Caractéristiques La détection en temps réel du point final du MEB à haut contraste permet la préparation d'échantillons ...
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Résolution spatiale: 0,3 nm
... AFM100 est la plate-forme de microscopie à sonde de nouvelle génération d'Hitachi. Les systèmes AFM100 Plus et AFM100 qui composent cette série ont été conçus pour étendre les capacités et les performances de la microscopie ...
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