Microscopes FE-SEM Hitachi

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microscope SEM
microscope SEM
SU9000 II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm

... Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage constamment propre pour une imagerie ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm

... Le SU7000 est idéal pour les échantillons lourds ou de grande taille et pour l'intégration d'une large gamme d'accessoires. Ces accessoires comprennent des détecteurs analytiques ou des accessoires de scène pour la manipulation in situ ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU3800SE/SU3900SE

Grossissement: 5 unit - 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 2,5 nm

... Les MEB SU3800SE et SU3900SE d'Hitachi offrent des solutions d'imagerie et d'analyse polyvalentes pour diverses applications. Ces instruments offrent une imagerie haute résolution, une navigation intuitive et une automatisation avancée, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope numérique
microscope numérique
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plate-forme ...

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Hitachi High-Technologies
microscope SEM
microscope SEM
SU8600

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm

... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plateforme CFE-SEM ...

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