Microscopes à champ clair Hitachi

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microscope optique
microscope optique
SU9000II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 1,2, 0,7, 0,4, 0,8 nm

... d'émission à champ froid de HITACHI - garantit la résolution la plus élevée possible du système (résolution SE 0,4 nm à 30 kV, 0,7 nm à 1,0 kV [avec option de décélération]) et la stabilité. Nouvelle source cohérente ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! Caractéristiques Concept clé 1.Capacité ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU5000

... deviennent des experts du jour au lendemain. La technologie d'ajustement automatique des axes (auto-calibration) rétablit le microscope dans son "meilleur état" à la demande. Une chambre d'échantillons robuste "draw-out" ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Cold FEG à haute stabilité utilise une version entièrement repensée de la technologie de source d'électrons à émission de champ froid d'Hitachi, établie de longue date. ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope TEM
microscope TEM
HT7800 series

Grossissement: 600 000, 800 000, 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,14, 0,19, 0,2 nm

... les analyses TEM modernes. Caractéristiques L'objectif à double mode d'Hitachi permet une observation facile à faible grossissement, un contraste élevé à grand champ, une haute résolution et bien plus ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope optique
microscope optique
SU9000II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,4, 0,7 nm

... La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec ...

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Hitachi High-Technologies
microscopie AFM
microscopie AFM
AFM100 Plus

Résolution spatiale: 0,3 nm

... AFM100 est la plate-forme de microscopie à sonde de nouvelle génération d'Hitachi. Les systèmes AFM100 Plus et AFM100 qui composent cette série ont été conçus pour étendre les capacités et les performances de la microscopie ...

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Hitachi High-Technologies
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