Le système de mesure par imagerie micro-nano photoélectrique utilise une technique d'imagerie microscopique, des chemins lumineux d'excitation multiples, pour fournir une lumière monochromatique stable et de petite taille à un dispositif d'essai photovoltaïque. Il permet de caractériser les distributions de courant de court-circuit, les défauts de surface et la réflectivité des dispositifs électroniques.
Basé sur la technique de balayage galvano, le système se caractérise par un balayage rapide et une haute résolution spatiale. Il est largement utilisé pour la recherche sur les cellules solaires et les dispositifs photoélectriques, tels que les cellules à colorant, le silicium monocristallin, le silicium multicristallin, les semi-conducteurs organiques, les détecteurs GaN, etc. L'imagerie photoélectrique peut fournir des données analytiques importantes pour le QE, la distribution de la résistance et l'inhomogénéité du courant photo-généré.
Structure du système :
Le système comprend des lasers d'excitation, un galvanomètre à balayage, un microscope, une unité d'acquisition de données et un logiciel de contrôle. Lors du balayage de l'échantillon, le galvanomètre fait en sorte que le point laser se déplace rapidement dans la direction XY de l'échantillon. Le logiciel enregistre la position de chaque point de balayage et la valeur de sortie du courant, et affiche de manière synchrone un graphique montrant la distribution du courant dans l'échantillon. Le trajet de la lumière garantit également que le motif du point lumineux sur différentes positions de l'échantillon ne changera pas.
Composants :
■ Sources lumineuses
■ Microscopie
■ Galvanomètre à balayage
■ Source Meter
■ Station de sondes et logiciel
Caractéristiques
■ Longueur d'onde multi-laser en option
■ Remplacement facile de l'échantillon
■ L'étage linéaire XY permet de changer facilement le point de mesure de l'échantillon
■ Le balayage Galvo élimine les effets des vibrations
■ Le logiciel de visualisation permet de choisir arbitrairement la zone de balayage
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