Microscope optique CLARA

SEMpour la biologied'inspection

SEM UHR analytique sans champ pour la caractérisation des matériaux à l'échelle nanométrique Caractérisation sans compromis de tous les types de matériaux à l'échelle nanométrique Idéal pour la caractérisation des matériaux à faible énergie de faisceau pour une topographie de surface maximale Excellente imagerie des échantillons sensibles aux faisceaux et non conducteurs Configuration entièrement automatisée du faisceau d'électrons - les conditions d'imagerie optimales sont garanties par le In-Flight Beam Tracing™ Navigation intuitive en direct du MEB sur l'échantillon à un grossissement aussi faible que 2× sans nécessiter de caméra de navigation optique supplémentaire grâce à la conception Wide Field Optics™ Conception unique du multidétecteur dans le faisceau permettant une détection sélective de l'ESB en fonction de l'angle et de l'énergie Plateforme modulaire logicielle intuitive conçue pour une utilisation sans effort quel que soit le niveau de compétence des utilisateurs