Microscope optique VEGA

SEMde laboratoired'inspection

Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4e génération de TESCAN VEGA avec source d'électrons à filament de tungstène combine l'imagerie MEB et l'analyse en direct de la composition élémentaire dans une seule fenêtre du logiciel Essence™ de TESCAN. Cette combinaison simplifie considérablement l'acquisition des données morphologiques et élémentaires de l'échantillon, faisant du VEGA SEM une solution analytique efficace pour l'inspection de routine des matériaux dans les laboratoires de contrôle qualité, d'analyse des défaillances et de recherche. Plateforme analytique dotée d'un système TESCAN Essence™ EDS entièrement intégré, qui combine efficacement l'imagerie MEB et l'analyse de la composition élémentaire dans une seule fenêtre du logiciel Essence™. Conditions d'imagerie et d'analyse optimales immédiatement disponibles grâce à la conception optique unique sans ouverture de TESCAN, alimentée par In-flight Beam Tracing™. Navigation SEM sans effort et précise sur l'échantillon à des grossissements aussi faibles que 2× sans avoir besoin d'une caméra de navigation optique supplémentaire grâce à la conception unique Wide Field Optics™. Mode SingleVac™ en standard pour l'observation d'échantillons en charge et sensibles au faisceau. Logiciel Essence™ intuitif et modulaire conçu pour une utilisation sans effort quel que soit le niveau d'expérience de l'utilisateur. La sécurité ultime des détecteurs montés dans la chambre lorsque la platine et l'échantillon sont en mouvement est garantie par le modèle Essence™ 3D Collision. Le tampon de vide optionnel réduit considérablement le temps de fonctionnement de la pompe rotative à vide pour offrir des avantages à la fois écologiques et économiques. La plateforme analytique modulaire peut être équipée en option du plus grand choix de détecteurs entièrement intégrés (par exemple, CL, ESB refroidi à l'eau ou spectromètre RAMAN).