Équipé d'un circuit à grande vitesse qui augmente le taux de comptage jusqu'à 30 fois par rapport à l'ancien modèle.
Des algorithmes et des performances améliorés contribuent également à réduire les temps de mesure.
Comparaison à l'aide d'échantillons réels
Exemple d'apparence externe
La répétabilité à l'aide de l'EDX-7200 et du modèle précédent (EDX-720) a été comparée pour le plomb (Pb) dans la soudure sans plomb.
L'extension du temps de mesure pour augmenter le nombre de rayons X fluorescents peut améliorer la précision (répétabilité) de la spectrométrie de fluorescence X.
L'EDX-7200 intègre un détecteur SDD à taux de comptage élevé et un circuit à grande vitesse qui réalise une analyse très précise de la cible dans un temps de mesure plus court.
Hauté résolution
L'EDX-7200 offre une résolution énergétique supérieure par rapport aux modèles précédents en incorporant un détecteur SDD de pointe. Cela réduit les effets des pics qui se chevauchent de différents éléments, améliorant ainsi la fiabilité des résultats d'analyse.
Aucun azote liquide requis
Le détecteur SDD est capable de refroidissement électronique. Comme il n'est pas nécessaire d'utiliser de l'azote liquide, cela réduit les coûts de fonctionnement.
- Une unité de mesure du vide ou une unité de purge à l'hélium en option est nécessaire pour mesurer les éléments légers (15P et moins) avec l'EDX-7200.
- La limite de détection inférieure varie en fonction de la matrice de l'échantillon ou des éléments coexistants.
- La limite de détection inférieure des éléments légers (20Ca et moins) s'aggrave lorsque le film de cellule d'échantillon est utilisé.