Spectromètre XRF EDX series

à LEDde paillassecompact

Les appareils de Fluorescence X, EDX de Shimadzu, vous permettent de réaliser des mesures qualitatives (criblage) et/ou quantitatives (avec ou sans étalon) de façon rapide et non destructive. Lors d’une analyse élémentaire par EDXRF, l’échantillon est irradié par des rayons X. Le faisceau incident éjecte un électron interne de l’atome qui est remplacé par un électron de la couche supérieure. Cette transition émet un photon dont l’énergie correspond exactement à l’écart entre les deux niveaux électroniques. Grâce à la mesure de l’énergie de ce photon, on identifie l’atome émetteur. Les niveaux d’énergie mis en jeu lors de ce phénomène correspondent aux courtes longueurs d’onde des rayons X et sont indépendant des liaisons chimiques. Design ergonomique Grande chambre d’échantillon Les nouveaux EDX 7000 et EDX 8000 sont 20% moins encombrants que notre précédent modèle. Malgré leur taille compacte, ils peuvent accueillir des échantillons de taille maximale de L300 x P275 x env. H100 mm en hauteur. DEL haute visibilité Lorsque les rayons X sont générés, un indicateur « X-ray » à l'arrière de l'instrument et une lampe « X-RAYS ON » sont allumés pour visualiser rapidement l’état de l’appareil. DEL haute visibilité Lorsque les rayons X sont générés, un indicateur « X-ray » à l'arrière de l'instrument et une lampe « X-RAYS ON » sont allumés pour visualiser rapidement l’état de l’appareil.