Le S wide est un système spécialisé conçu pour mesurer rapidement de grandes surfaces d'échantillons jusqu'à 300 x 300 mm. Il offre tous les avantages d'un microscope numérique intégré dans un instrument de mesure à haute résolution. Extrêmement facile à utiliser, il ne nécessite qu'un seul bouton d'acquisition.
SOLUTIONS
Système de métrologie optique 3D pour grandes surfaces
Fabrication avancée
Archéologie et paléontologie
Électronique grand public
Appareils médicaux
Moulage
Optique
Industrie horlogère
Répétabilité de la hauteur inférieure au micron sur l'ensemble de la zone étendue
Mesure de la hauteur en une seule fois jusqu'à 40 mm sans balayage Z
Lentilles bi-télécentriques à très faible distorsion de champ pour une métrologie précise
Déviation de forme à partir de modèles CAO 3D
mesure de la différence géométrique et de la tolérance
Lentilles bi-télécentriques à très faible distorsion de champ permettant une métrologie précise
Écart de forme par rapport aux modèles CAO 3D
fournissant la différence géométrique et la mesure de la tolérance
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