Spectromètre optique NEX CG II

EDXRFmulti-éléments

Spectromètres de fluorescence X à dispersion d'énergie à géométrie cartésienne de la prochaine génération Analyse élémentaire améliorée pour le contrôle de la qualité industrielle et les applications de recherche avancée Les spectromètres NEX CG II sont de puissants spectromètres à fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de deuxième génération qui permettent une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons - des huiles et liquides aux solides, métaux, polymères, poudres, pâtes, revêtements et films minces. La série Rigaku NEX CG II est constituée d'analyseurs multi-éléments et multi-usages, idéaux pour mesurer des concentrations d'éléments ultra-faibles et de traces jusqu'à des niveaux de pourcentage. Ces analyseurs sont utilisés dans de nombreuses industries et sont particulièrement bien adaptés à la détermination semi-quantitative de la teneur en éléments dans des inconnus complets. Les applications vont de l'assurance qualité industrielle et en usine à la recherche et au développement. Ils sont faciles à utiliser pour des opérateurs non techniques, mais suffisamment puissants pour être utilisés par des experts dans des laboratoires commerciaux et des installations de recherche et de développement. Les utilisateurs peuvent atteindre les limites de détection les plus basses et gérer facilement des applications complexes. La série NEX CG II est idéale pour tester les sols agricoles et les matières végétales, analyser les aliments finis pour animaux, mesurer les huiles usées, surveiller l'environnement, les produits pharmaceutiques, les cosmétiques et bien d'autres. Les modèles disponibles sont NEX CG II pour une excellente résolution spectrale des pics de traces ou NEX CG II+ pour des applications plus exigeantes nécessitant un système plus puissant. Géométrie cartésienne et polarisation pour une sensibilité au niveau des traces La série NEX CG II s'appuie sur l'héritage de NEX CG qui utilise la géométrie cartésienne et des cibles secondaires pour une sensibilité à l'échelle de la trace.