Diffractomètre électronique entièrement intégré
Un système dont l'utilisation est intuitive pour tout cristallographe à rayons X
XtaLAB Synergy-ED est un nouveau diffractomètre électronique entièrement intégré, qui crée un flux de travail transparent depuis la collecte des données jusqu'à la détermination des structures moléculaires tridimensionnelles. La caractéristique principale de ce produit est qu'il fournit aux chercheurs une plate-forme intégrée permettant un accès facile à la cristallographie électronique. Le XtaLAB Synergy-ED est un système que tout cristallographe à rayons X trouvera intuitif sans avoir à devenir un expert en microscopie électronique.
Le XtaLAB Synergy-ED est le résultat d'une collaboration innovante visant à combiner de manière synergique nos technologies de base : Le détecteur de comptage de photons à haute vitesse et haute sensibilité de Rigaku (HyPix-ED) et la plate-forme logicielle de pointe pour le contrôle de l'instrument et l'analyse des monocristaux (CrysAlisPro for ED), ainsi que l'expertise à long terme et le leadership du marché de JEOL dans la conception et la production de microscopes électroniques à transmission.
Le XtaLAB Synergy-ED a été conçu pour répondre au besoin croissant d'étudier des échantillons de plus en plus petits dans la recherche structurelle. En cristallographie à rayons X, la plus petite dimension possible d'un cristal est de 1 micron, et ce uniquement en utilisant les sources de rayons X les plus brillantes et des détecteurs sans bruit. Cependant, ces dernières années, le besoin d'analyser la structure des substances qui ne forment que des microcristaux, c'est-à-dire des cristaux dont la taille ne dépasse pas quelques centaines de nanomètres, s'est fait de plus en plus pressant. Ces dernières années, une nouvelle méthode d'analyse, MicroED, a été mise au point. Elle utilise la diffraction électronique sur un microscope électronique TEM pour mesurer les structures moléculaires en 3D des matériaux nanocristallins.
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