Diffractomètre à rayons X microfoyer simple ou double pour tous vos besoins en cristallographie
Un diffractomètre à rayons X monocristallin rapide et agile pour l'analyse de la structure 3D des petites molécules
Nous avons développé le diffractomètre de rayons X XtaLAB Synergy-S pour la diffraction de rayons X sur un seul cristal en pensant avant tout à votre réussite. Grâce à une combinaison de composants de pointe et de logiciels inspirés par l'utilisateur, liés par une architecture hautement parallélisée, le XtaLAB Synergy-S produit des données rapides et précises de manière intelligente.
Vue d'ensemble
Le système est basé sur la série PhotonJet-S de sources de rayons X microfocalisées qui intègrent en option des fentes de divergence à variation continue. Ces sources de troisième génération ont été conçues pour maximiser les photons de rayons X au niveau de l'échantillon grâce à une combinaison de nouvelles optiques, de nouveaux tubes à durée de vie plus longue et d'un système d'alignement amélioré. Les sources PhotonJet-S sont disponibles pour les longueurs d'onde Cu, Mo ou Ag, en configuration simple ou double. Le diffractomètre à rayons X monocristallin XtaLAB Synergy-S est équipé d'un goniomètre kappa qui intègre des vitesses de moteur rapides et un bras télescopique unique à deux thêta afin d'offrir une flexibilité totale pour votre expérience de diffraction. Le système est également équipé de détecteurs de comptage de photons hybrides HPC, le HyPix-6000HE ou les détecteurs à grande couverture thêta : HyPix-Arc 100° ou HyPix-Arc 150°.
Dans certains contextes, il est souhaitable de partager les ressources instrumentales entre différents groupes de recherche.
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