Spectrophotomètre UV-vis CTech™ SoloVPE®

UVpour la recherchepour le contrôle qualité

Le système CTech™ SoloVPE® libère la puissance de la spectroscopie de pente grâce à sa technologie unique et brevetée de longueur de trajet variable (VPT). Évitez les dilutions coûteuses grâce à cette solution de longueur de trajet variable simple, mais puissante, qui fournit des résultats rapides et précis. Contrairement aux méthodes UV-Vis traditionnelles qui dépendent d'une seule valeur, la méthode de pente à forte densité de données caractérise les échantillons en collectant plusieurs points de données d'absorbance à plusieurs longueurs de trajet pour créer une courbe de section (absorbance en fonction du tracé de la longueur de trajet). La courbe de section est ensuite analysée en temps réel pour vérifier la linéarité conformément à la loi de Beer-Lambert. La zone linéaire de la courbe de section est directement proportionnelle à la concentration de l'échantillon sur la base du coefficient d'extinction de l'échantillon. Le résultat ? Le système SoloVPE fournit des résultats de concentration en moins de 60 secondes. Capable d'effectuer des mesures spectrales et à point fixe à des longueurs d'onde comprises entre 190 nm et 1100 nm et à des longueurs de trajet comprises entre 5 microns et 15 millimètres, la solution SoloVPE s'adapte à une large gamme de types d'échantillons et de concentrations. La méthode du système SoloVPE s'est avérée exacte, précise et robuste. Par conséquent, elle peut facilement et avec succès être validée conformément aux exigences de l'ICH Q2(R1). La technologie de longueur de trajet variable permet d'obtenir des valeurs R2 ≥0,999, ce qui prouve la cohérence robuste entre les systèmes. Méthodes de spectroscopie de pente : Le premier et le seul spectromètre de pente capable d'effectuer des mesures basées sur la spectroscopie de pente. Le système SoloVPE tire parti des résultats de pente basés sur des points de données multiples au lieu d'une seule valeur d'absorbance. Caractérisation rapide des échantillons : Caractérisation rapide des échantillons à différentes longueurs d'onde