TopMap Micro.View® est un profilomètre optique compact et facile à utiliser. Ce système de métrologie combine des performances exceptionnelles et un prix abordable. Avec une plage de mesure Z étendue de 100 mm et la technologie de balayage continu CST, Micro.View® mesure des topographies complexes avec une résolution nanométrique. Cette configuration de table facile à mettre en œuvre comprend une électronique intégrée, le Focus Finder intelligent simplifiant et accélérant la procédure de mesure.
Points forts
Mesure sans contact de finition de surface dans une configuration compacte
Topographie 3D, rugosité et texture
Plage de mesure Z 100 mm avec technologie de balayage continu CST
Excellente résolution latérale, micrométrique
Choisissez parmi les objectifs spécifiques à l'application
L'outil de recherche automatisé gagne du temps et évite les erreurs
Isolation antivibratoire intégrée pour des mesures stables à tout moment
Microscope system for surface profiling
Les interféromètres à lumière blanche capturent les détails structurels les plus fins de vos surfaces de précision. Nos profilomètres basés sur microscope caractérisent la texture de surface et quantifient la rugosité ou la douceur des surfaces de vos pièces. Profitez des mesures motorisées, du positionnement automatique et du viseur de mise au point automatique pour vous concentrer sur votre qualité.
Métrologie de surface compacte et performante
Bénéficiez de la technologie optionnelle de compensation environnementale ECT, garantissant des résultats de mesure fiables et précis même en environnement de production bruyant et difficile.