Spectrophotomètre NIR LAMBDA 1050+
UVVISd'échantillonnage

spectrophotomètre NIR
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Caractéristiques

Type
VIS, NIR, UV
Application
d'échantillonnage
Configuration
de paillasse
Longueur d'onde

Min: 175 nm

Max: 3 300 nm

Hauteur

30 cm
(11,8 in)

Description

Les spectrophotomètres LAMBDA 1050+ UV/Vis/NIR de PerkinElmer sont conçus pour offrir les meilleures performances et la plus grande flexibilité pour analyser une large gamme de types d'échantillons, y compris l'analyse des revêtements, du verre à haute performance, des matériaux solaires et avancés et des composants dans les domaines de la recherche et de la fabrication. Le LAMBDA 1050+ répond et dépasse souvent les standards de l'industrie en matière de performance, de flexibilité et de commodité. La dernière génération de spectrophotomètres LAMBDA 1050+ est conçue pour offrir des taux de balayage plus rapides, une configuration de l'instrument et des temps de réponse meilleurs que jamais pour maximiser votre productivité. Vue d'ensemble Les spectrophotomètres LAMBDA 1050+ de haute performance offrent une flexibilité inégalée en vous donnant le choix de configurer les systèmes en fonction de vos besoins. De la sélection des détecteurs aux accessoires qui fournissent l'approche la plus pratique et la plus flexible à l'échantillonnage que n'importe quel autre système UV/Vis/NIR disponible. Meilleur contrôle des échantillons Le LAMBDA 1050+ a été conçu avec une multitude de caractéristiques et d'accessoires pour contrôler votre échantillon et assurer la qualité de vos données, y compris : Les plus grands compartiments d'échantillons de l'industrie pour une plus grande maniabilité de l'échantillon et une installation rapide de divers accessoires Sphères d'intégration encliquetables pour capturer la réflectance diffuse et spéculaire. Disponible en 100 et 150 mm, avec une réflectance de 8° et une capacité de montage central Accessoire universel de réflectance avec double détecteur Si et InGaAs pour des ajustements d'angle automatisés, précis et reproductibles Unité d'entraînement Pol/Depol pour le contrôle automatique de la lumière polarisée ou dépolarisée via un PC Atténuation interne contrôlée par l'instrument, de 1 à 0,1 %, pour les mesures d'absorption élevée

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Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 nov. 2024 Shanghai (Chine)

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    * Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.