Les systèmes de microscopie IR Spotlight™ sont conçus pour relever les défis d'un laboratoire en expansion en générant des données reproductibles de haute qualité à partir d'une variété de types d'échantillons. Le Spotlight englobe une technologie intelligente et une simplicité d'utilisation pour relever les défis d'aujourd'hui et ceux à venir.
Vue d'ensemble
Le système de microscopie FT-IR Spotlight 200i est conçu avec une technologie de pointe pour permettre une automatisation intelligente et des capacités d'analyse sophistiquées. Le système utilise un détecteur à point unique de haute performance pour offrir la meilleure sensibilité, tandis que l'éclairage LED en lumière blanche fournit des images visibles de qualité supérieure. En outre, le Spotlight 200i peut être entièrement transformé en système d'imagerie Spotlight 400.
Les caractéristiques uniques du système Spotlight 200i sont les suivantes :
Production spectrale de haute qualité à partir de zones d'échantillons avec des limites de diffraction aussi basses que 10 microns
Recherche de régions d'intérêt (ROI) pour faciliter l'analyse de plusieurs particules et couches à la fois
Possibilité de fonctionnement en mode transmission, réflectance et micro-ATR automatisé pour une flexibilité maximale de l'échantillonnage
Possibilité de configuration en vue d'une utilisation avec l'IR moyen, le proche IR ou le FT-IR à double gamme avec les systèmes Frontier™ ou Spectrum Two™ afin d'obtenir un maximum d'informations à partir des échantillons dans les délais les plus brefs.
Le système de microscopie FT-IR Spotlight 200i peut être configuré pour répondre à vos exigences en matière de microscopie FT-IR et produire des spectres de haute qualité à partir d'échantillons extrêmement petits. Voir le tableau des configurations ci-dessous pour les options standard.
Choix d'un détecteur MCT (tellurure de mercure et de cadmium) à élément unique (bande moyenne ou large),
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