Microscopie optique Spotlight 400

FT-IRde laboratoirespectral

Les systèmes de microscopie IR Spotlight™ sont conçus pour relever les défis d'un laboratoire en expansion en générant des données reproductibles de haute qualité à partir d'une variété de types d'échantillons. Le système d'imagerie FT-IR Spotlight 400 associe une sensibilité élevée et une imagerie rapide à une grande facilité d'utilisation. La capacité d'imager rapidement de grandes surfaces d'échantillons à haute résolution spatiale permet d'étendre la microscopie FT-IR à de nouvelles applications. Vue d'ensemble Le système d'imagerie Spotlight 400 FT-IR est conçu avec une technologie de pointe pour permettre une automatisation intelligente et des capacités d'analyse sophistiquées. Le système intègre un certain nombre d'outils de productivité uniques et dispose d'un système d'imagerie ATR qui permet de collecter des images infrarouges à haute résolution d'échantillons extrêmement petits afin de visualiser la composition des matériaux sur la base des données spectrales FT-IR. Les caractéristiques uniques du système Spotlight 400 sont les suivantes : Production de spectres et d'images de haute qualité à partir de zones d'échantillons, avec des résolutions de pixels de 6,25, 25 ou 50 microns Recherche de régions d'intérêt (ROI) pour faciliter l'analyse de plusieurs particules et couches à la fois La possibilité de configurer le système Spectrum 3™ pour l'utiliser avec l'IR moyen à gamme étendue, le proche IR ou le FT-IR à double gamme, afin d'obtenir un maximum d'informations sur les échantillons en un minimum de temps. Configurabilité pour être utilisé avec le moyen IR, le proche IR ou le FT-IR à double gamme avec les systèmes Spectrum 3™ pour donner un maximum d'informations à partir d'échantillons dans le temps le plus court possible.