Le LFA 467 HT HyperFlash®® est basé sur la technologie déjà établie du LFA 467 HyperFlash®® et ne requiert aucune classe laser grâce à son système innovant de source lumineuse. La longue durée de vie de la lampe Xénon fournit des mesures à moindre coût à des températures jusqu’à 1250°C sans consommables coûteux.
ZoomOptics – Pour des résultats précis de mesure par optimisation du champ de vision
Le système breveté ZoomOptics (patent no.: DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03) optimise le champ de vision du détecteur, éliminant ainsi toutes influences causées par l’appareil. Le résultat est une augmentation significative de la précision des résultats de mesure.
Taux d’acquisition ultrarapide (jusqu’à 2 MHz) et largeurs de pulse extrêmement faibles (jusqu’à 20 µs) permettant la mesure des matériaux fins et hautement conducteurs
Le taux d’acquisition de la série LFA 467 HyperFlash®® a été augmenté à 2 MHz. Ce taux d’acquisition s’applique au détecteur IR et au pulse. Ainsi les matériaux hautement conducteurs et/ou fins exigeant des temps de mesure courts peuvent être testés de façon fiable. Lors du test d’un métal (0.3 mm) et d’un film polymère (30 μm), un taux d’acquisition et une largeur de pulse optimaux peuvent être sélectionnés. Le système breveté de cartographie de pulse prend en compte l’effet de la largeur du pulse et les pertes de chaleur