Spectromètre XRF M4L
pour la recherchede paillasse

spectromètre XRF
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Caractéristiques

Type
XRF
Application
pour la recherche
Configuration
de paillasse
Longueur

455 mm
(17,9 in)

Largeur

301 mm
(11,9 in)

Hauteur

302 mm
(11,9 in)

Poids

25 kg
(55,1 lb)

Description

L'analyseur XRF M4L de MicrOptik est conçu pour les recherches en laboratoire sur différents types d'objets. L'analyseur dispose d'une chambre de mesure spacieuse avec un couvercle actionné par un actionneur. L'accès libre à toutes les surfaces de la table de mesure permet de placer des échantillons de toutes dimensions. L'analyseur est équipé d'un système de purge à l'hélium et d'une imprimante thermique intégrée. Un échantillonneur automatique est disponible en option. CARACTERISTIQUES TECHNIQUES DE L'ANALYSEUR EXPERT 4l Durée de fonctionnement continu Non limitée Durée de l'alimentation autonome Au moins 6 heures Alimentation - AC, 50/60 Hz 100-240 V Consommation électrique de l'unité de mesure Moins de 30W Dimensions de la chambre de mesure 397x225x153 mm Poids maximal de l'échantillon mesuré De 1 mg à 20 kg Garantie Pas moins de 1 an CONDITIONS DE FONCTIONNEMENT Plage de température de fonctionnement -10°C à +45°C Humidité relative dans la plage de température de fonctionnement <90%

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.