Le microscope métallurgique MJ33 à champ clair et à champ sombre est un microscope utilisé pour l'inspection industrielle, équipé d'objectifs à champ clair et à champ sombre, d'un oculaire à large champ et d'un dispositif d'observation polarisant. Le système d'éclairage réfléchi et transmis adopte un éclairage Kohler avec un champ de vision clair. Il peut être utilisé pour l'observation de la tranche de silicium semi-conducteur, des substrats LCD, des cartes de circuits imprimés et d'autres types de poudre solide transparente ou opaque spécimen de test industriel. Ce microscope métallurgique est un instrument idéal pour la recherche en biologie, métallurgie, minéralogie, ingénierie de précision et ingénierie électronique, etc.
Système optique et lentilles infinis
Adopte le système optique infini et la conception de la fonction de modularité.
Objectifs à longue distance de travail à champ clair/obscur, champ de vision large et clair.
Oculaire à large plan de champ : le numéro de champ est de 22mm.
Extension au DIC
Le système optique infini permet d'étendre la fonction DIC pour fournir une imagerie à contraste interférentiel différentiel.
Fonction de polarisation
Le dispositif de polarisation commutable intégré, l'analyseur orientable à 360° offre une méthode d'observation plus poussée pour les spécimens métalliques.
Système d'éclairage Epi - lampe halogène 12V 50W, luminosité réglable
Diaphragme de champ, diaphragme d'ouverture et dispositif de commutation de filtre intégrés.
Analyseur et polariseur de type push-pull
Filtre jaune, bleu, vert et verre dépoli
Système de mise au point - Système de mise au point grossier/fin coaxial, avec tension réglable et butée, division minimale de la mise au point fine : 2μm.
Porte-nez - Quintuple (Porte-nez fixe avec inclinaison vers l'arrière)
Platine - Platine mécanique mobile à double couche (taille : 210 mm x 140 mm, plage de déplacement : 75 mm x 50 mm)
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