XRD2DScan est le progiciel de Malvern Panalytical pour la visualisation, la correction, l'intégration, la conversion et l'analyse des données de diffraction 2D.
Fonctionnalités
Analyse des données de diffraction et de diffusion 2D
Les données de diffraction et de diffusion 2D contiennent un grand nombre d'informations. XRD2DScan propose une boîte à outils complète et facile à utiliser pour les extraire et les analyser.
Outre la détection des phases cristallines (minéraux) et amorphes (polymères), vous pouvez étudier leurs caractéristiques microstructurelles (taille du grain, orientation préférentielle, cristallinité, degré d'ordre, etc.), calculer les figures de pôles pour les échantillons texturés et analyser l'inhomogénéité d'un échantillon en cartographiant l'intensité du pic, la position 2Theta et la largeur du pic à l'aide d'un ensemble de figures 2D. La fonctionnalité de cartographie est également un outil très utile pour la représentation et l'examen pratiques d'un ensemble de données de plaque à puits.
Traitement et corrections des données 2D
Outre les outils d'analyse de données 2D, XRD2DScan offre plusieurs options utiles pour le traitement et la correction des données, notamment la correction de champ plat, la correction du bruit de fond et le masquage du faisceau direct ou des réflexions fortes (par exemple, d'un substrat). Vous pouvez également faire pivoter et recadrer une image 2D, améliorer la qualité d'une image 2D en effectuant un regroupement ou un lissage des données, etc. Vous pouvez fusionner plusieurs fichiers pour améliorer le rapport pic/bruit ou pour obtenir une représentation sommative d'un ensemble de fichiers multiples.