Spectromètre XRF Axios FAST

pour le contrôle qualité

Analyse multi-éléments de la composition chimique en quelques secondes Vous recherchez une solution vous permettent d'effectuer une analyse non destructive de la composition chimique en quelques secondes du fait d'un contrôle des processus critique en termes de temps ou de cadences d'analyse élevées ? Fort de sa capacité à mesurer jusqu'à 28 éléments simultanément dans des gammes de concentration allant de la ppm à 100 %, le spectromètre simultané de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) Axios FAST de Malvern Panalytical est la solution idéale. Il allie des fonctions d'analyse précises et robustes, une facilité d'utilisation parfaitement adaptée au personnel moins expérimenté et une disponibilité accrue à un faible coût de possession. Résultats rapides dans les applications critiques Avec des résultats d'analyse disponibles en quelques secondes, l'analyseur élémentaire Axios FAST est un outil idéal pour les applications critiques et les environnements à cadence d'analyse élevée. La production d'acier et d'alliages d'acier ainsi que les laboratoires géologiques ou commerciaux analysant des centaines d'échantillons chaque jour comptent parmi les principaux domaines d'application de l'analyseur. Cadence d'analyse élevée Grâce à sa gestion rapide des échantillons et à sa fiabilité de fonctionnement exceptionnelle, le spectromètre de fluorescence X simultané Axios FAST représente la solution idéale pour un contrôle analytique ultra rapide.