Système de préparation d'échantillons automatique EM RES102
de laboratoireTEMde paillasse

Système de préparation d'échantillons automatique - EM RES102 - Leica Microsystems - de laboratoire / TEM / de paillasse
Système de préparation d'échantillons automatique - EM RES102 - Leica Microsystems - de laboratoire / TEM / de paillasse
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Caractéristiques

Mode d'utilisation
automatique
Applications
de laboratoire, TEM
Configuration
de paillasse

Description

Leica EM RES102 vous permet d'amincir, de nettoyer, de polir, de découper des pentes et de structurer vos échantillons avec le plus haut niveau de flexibilité. Ce système unique de fraisage par faisceau d'ions combine la préparation d'échantillons TEM, SEM et LM en une seule unité de paillasse. Une variété de supports d'échantillons permet de réaliser une gamme variée d'applications. En plus du fraisage par faisceau d'ions à haute énergie, le Leica EM RES102 peut également être utilisé pour le traitement très doux des échantillons en utilisant une faible énergie ionique.

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Catalogues

EM RES102
EM RES102
12 Pages
EM TXP
EM TXP
10 Pages

Salons

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AEEDC 2025
AEEDC 2025

4-06 févr. 2025 Dubai (Emirats Arabes Unis) Stand 807

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