Système de préparation d'échantillons automatique POLISHER™

pour microscopie électroniquede refroidissementde surface

Les microscopes électroniques à balayage (MEB) sont des outils indispensables tant pour la recherche que pour le contrôle qualité des pièces sur les sites de fabrication. Dans ces domaines, les mêmes réglages doivent être effectués à plusieurs reprises pour être en condition d’observation et il est nécessaire d’améliorer l’efficacité du processus. Avec le JSM-IT510, la nouvelle fonction « Simple SEM™ » permet aux utilisateurs d’automatiser cette opération manuelle répétitive rendant l’observation SEM plus efficace et plus facile. Nouvelle fonction Simple SEM La fonction « Simple SEMTM » prend en charge le travail de routine quotidien. Échantillon : Carte électronique Tension d’accélération : 15 kV, image du haut : grandissement: × 50, image du grandissement : × 1 000, signal : BE (Backscattered electron = Electrons rétrodiffusés). Guide Navi De l’insertion de l’échantillon à l’observation automatique. 1. Suivez le guide « Navi » pour installer l’échantillon 2. Mise en place des conditions d’observation pendant le pompage du système 3. Démarrage automatique de l’observation Agrandissement de l’image optique1 pour une transition continue vers l’image électronique La fonction Zeromag simplifie la navigation en offrant une transition transparente de l’image optique à l’image MEB. L’image optique, l’image électronique et l’interface graphique sont tous liés pour une vue globale des régions analysées.