Spectromètre optique SXES

à rayons XCCDde paillasse

Le détecteur SXES (pour Soft X-Ray Emission Spectrometer) est un spectromètre ultra-haute résolution à la conception innovante pouvant s’ajouter à un MEB ou une EPMA et combinant un réseau de diffraction et une caméra CCD à rayon X ultra-sensible. Tout comme en EDS, la détection est parallèle, vous pourrez donc analyser plusieurs éléments en même temps. Mais à la différence de l’EDS, le détecteur SXES a une résolution en énergie de 0,3 eV (Fermi-edge, Al-L standard) surpassant même très largement la résolution d’un WDS (8 eV). Aperçu du système Le design innovant du système optique de ce spectromètre imaginé par JEOL permet la mesure simultanée de spectres avec des énergies différentes (pouvant descendre jusqu’à 50 eV), sans déplacer le réseau de diffraction ou même le détecteur (caméra CCD). Comparaison du SXES avec l’EDS et le WDS Exemple du nitrure de titane avec les différentes méthodes de spectrométrie. Pour le nitrure de titane, les pics de N -Ka et Ti- Ll se chevauchent en EDS. C’est le cas également du WDS, où il est tout de même possible de les différencier par déconvolution mathématique. Comme illustré dans la figure ci-dessous, seule la résolution en énergie du SXES permet d’observer directement la raie Ti- Ll. Exemple de l’analyse du lithium dans les batteries Li-Ion L’exemple ci-dessous montre une cartographie d’une large zone d’une batterie Lithium-ion à différents niveaux de charges (0%, 30% et 100%). Les cartographies illustrent que le détecteur SXES peut cartographier le pic de la raie Li-K dans deux états chimiques différents.