Spectromètre EDXRF JED-2300

Le logiciel d'analyse de particules PA3 de JEOL permet d’automatiser la détection, l'analyse EDS et la classification des particules ou autres éléments de vos échantillons. Entièrement intégré au système EDS de nos microscopes électroniques à balayage, PA3 augmente la rapidité d’acquisition ainsi que la productivité en fournissant des mesures automatisées sur de grandes zones d'un échantillon ou plusieurs échantillons. Que ce soit en fabrication, en contrôle qualité ou en R&D, le logiciel PA3 accroît les capacités d'inspection de l’échelle du millimètre au nanomètre. Lors des analyses de routine, l’utilisateur peut définir des programmes dédiés à ses applications pour la détection de particules et les classifications chimiques. Grâce à ces programmes, la gestion des analyses devient simple et rapide même pour un utilisateur sans expérience. Des bibliothèques supplémentaires sont disponibles et répondent à diverses normes de l'industrie, telles que : l’analyse des caractéristiques métalliques (Metal Feature Analysis - MFA). Pour l'analyse des inclusions dans l'acier avec classification et rapport conforme à la norme ISO 4967, l’analyse de poudres pour la fabrication additive (impression 3D métal), l’analyse de la propreté des composants et des systèmes automobiles (Road Vehicle Cleanliness Library - RVCLB). Pour l'analyse des particules de pièces automobiles avec classification et rapport conforme à la norme ISO 16232 (ou VDA19), l’analyse des résidus de tirs d'armes à feu (Gun Shot Residues – GSR ISO 17025) avec classification et rapport conforme à la norme ASTM E1588.