Microscope optique JSM-IT810

SEMFE-SEMpour les sciences de la vie

La polyvalence et la haute résolution spatiale rencontrent l'automatisation avec le FE-SEM de la série JSM-IT810. L'automatisation sans codage de l'imagerie et de l'analyse EDS est intégrée pour un flux de travail rationalisé et efficace. De nouvelles fonctions sont disponibles pour garantir des données de haute qualité et une expérience utilisateur améliorée pour tous les utilisateurs de MEB. Les fonctions comprennent le paquet d'ajustement automatique du MEB, une fonction de correction trapézoïdale (utile pour les mesures EBSD) et la reconstruction de surface Live 3D pour l'observation de la topographie de la surface. L'utilisation d'un MEB FE n'a jamais été aussi facile avec la série JSM-IT810. Caractéristiques Fonction d'observation et d'analyse automatique "Neo Action" L'observation MEB et l'analyse EDS peuvent être automatisées en réglant simplement les conditions d'analyse et en sélectionnant les zones à mesurer. Ensemble de réglage automatique du MEB Ensemble d'ajustement automatique du MEB (en option) : Cette fonction utilise un échantillon dédié pour effectuer l'étalonnage du grossissement, l'alignement du faisceau et l'étalonnage de l'énergie EDS. Des contrôles réguliers permettent de maintenir l'équipement dans un état optimal. Fonction Live-3D Choisissez notre détecteur BSE multi-segmenté de type semi-conducteur pour créer une reconstruction 3D en direct de la surface de l'échantillon. Visualisez l'image 3D en temps réel pour vérifier la topologie de l'échantillon. Intégration EDS Une fonctionnalité de nouvelle génération qui élimine les barrières entre l'observation par MEB et l'analyse élémentaire par EDS. Diverses méthodes d'analyse telles que le point, la zone, le MAP et la ligne peuvent être réservées directement sur l'écran d'observation, ce qui permet de démarrer immédiatement une analyse.