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Microscope SEM JSM-IT510 InTouchScope™
pour la recherche3Dde paillasse

Microscope SEM - JSM-IT510 InTouchScope™  - Jeol - pour la recherche / 3D / de paillasse
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Caractéristiques

Type
SEM
Applications
pour la recherche
Technique d'observation
3D
Configuration
de paillasse
Grossissement

100 unit, 150 unit, 500 unit, 5 000 unit, 10 000 unit

Résolution spatiale

3 nm, 15 nm

Description

Le JSM-IT200 est un microscope électronique à balayage caractérisé par sa grande facilité d’utilisation couplée à une haute performance technique. Vous pouvez observer vos échantillons de l’échelle macro (image par une caméra couleur) à l’échelle nano avec une analyse chimique en temps réel. Les fonctions automatiques vous permettent de prendre une image, acquérir un spectre et éditer un rapport en très peu de temps et de façon intuitive. Ce nouveau MEB caractérisé par prix très attractif est destiné à tous les niveaux d’utilisateurs. Outre les performances en résolution, notamment à basse tension (1keV) pour obtenir une information d’extrême surface, ce MEB analytique intègre 3 fonctionnalités uniques : « Specimen Exchange » : un guide pour l’observation, de l’introduction de l’échantillon à l’édition du rapport Analyse élémentaire instantanée ! Le spectre de rayons X caractéristique des éléments contenus dans l’échantillon analysé est affiché durant l’observation en temps réel (unique !).

VIDÉO

Catalogues

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.