Microscope optique XploRA Nano

à sonde à balayagede laboratoirede paillasse

Système entièrement intégré basé sur le microscope à sonde locale de pointe SmartSPM et le micro-spectromètre Raman XploRA. Compact, entièrement automatisé et facile à utiliser, le XploRA Nano concentre toute la puissance de la technologie AFM-Raman dans un système complet et abordable, mettant l'imagerie TERS à la portée de tous. Système TERS éprouvé. Plateforme d'analyse multi-échantillons Il est possible d'effectuer des mesures à l'échelle macro, micro et nanométrique sur la même plateforme. Facilité d'utilisation Fonctionnement entièrement automatisé pour des mesures en quelques minutes. De véritables performances confocales Haute résolution spatiale, étapes de cartographie automatisées, options complètes de visualisation au microscope. Collecte haute efficacité Détection Raman par le dessus et par le côté pour optimiser la résolution et le rendement lors des mesures colocalisées et exaltées par effet de pointe (Raman et photoluminescence). Haute résolution spectrale Résolution spectrale ultra performante, plusieurs réseaux avec commutation automatique, analyse dans une large gamme spectrale pour Raman et PL. Haute résolution spatiale Résolution spectroscopique à l'échelle nanométrique (jusqu'à 10 nm) grâce aux spectroscopies optiques exaltées par effet de pointe (Raman et photoluminescence). Multi-technique/Multi-environnement Plusieurs modes SPM sont disponibles : modes AFM, conducteur et électrique (cAFM, KPFM), STM, cellule liquide et environnement électrochimique, cartographie chimique par TERS/TEPL, etc. Contrôle total sur les 2 instruments depuis un poste de travail avec un logiciel de contrôle puissant,