Microscope optique SU9000II
SEMde laboratoiredroit

Microscope optique - SU9000II - Hitachi High-Technologies - SEM / de laboratoire / droit
Microscope optique - SU9000II - Hitachi High-Technologies - SEM / de laboratoire / droit
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Caractéristiques

Type
optique, SEM
Applications
de laboratoire
Ergonomie
droit
Configuration
de petite dimension
Autres caractéristiques
haute résolution
Grossissement

3 000 000 unit

Résolution spatiale

0,4 nm, 0,7 nm

Description

La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité et une stabilité du faisceau supérieures, permettant une imagerie à haute résolution et une analyse élémentaire de haute qualité. Pour permettre une acquisition stable des données aux niveaux de performance les plus élevés de l'instrument, le SU9000II offre de nouvelles capacités qui permettent des ajustements automatisés du système optique, ainsi que le nouveau logiciel EM Flow Creator en option pour permettre l'acquisition automatisée des données, en particulier la collecte de données séquentielles. En outre, la conception unique du système optique permet d'effectuer des EELS pour l'analyse avancée des matériaux. Caractéristiques La nouvelle conception du CFE GUN offre une grande luminosité et un courant d'émission extrêmement stable. Performance supérieure à bas kV pour l'observation de matériaux sensibles au faisceau. La résolution SE de 0,7 nm est garantie même à une tension d'atterrissage de 1,0 kV (avec option de décélération). Les nouvelles capacités de réglage automatique du système optique et la fonction optionnelle d'acquisition automatique des données permettent la collecte séquentielle des données. Technologie de vide améliorée qui permet des niveaux UHV pour réduire la contamination des échantillons. Boîtier de l'instrument de haute technicité présentant à la fois une résistance et une stabilité supérieures pour permettre une imagerie de haute résolution dans une large gamme de conditions environnementales. L'objectif de conception nouvelle permet une imagerie de haute résolution à une faible tension d'accélération. Le système d'échange d'échantillons à entrée latérale augmente le rendement en réduisant le temps nécessaire pour changer d'échantillon et en positionnant automatiquement l'échantillon au niveau de la DT actuelle.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.