Microscopie AFM AFM100 Plus

multifonctionnellede petite dimension

La série AFM100 est la plate-forme de microscopie à sonde de nouvelle génération d'Hitachi. Les systèmes AFM100 Plus et AFM100 qui composent cette série ont été conçus pour étendre les capacités et les performances de la microscopie à force atomique, tout en offrant une plate-forme facile à utiliser pour les utilisateurs de tous niveaux d'expérience. Faites l'expérience de la fiabilité et de l'innovation les plus poussées avec la série AFM100. Caractéristiques Défis pour la manipulation des cantilevers conventionnels - Il est difficile de saisir un cantilever avec une pince traditionnelle en raison de sa petite taille. - Les cantilevers sont très facilement endommagés par une légère pression. - Une variation de la position de montage peut entraîner des problèmes d'orientation et de fonctionnement. Les cantilevers prémontés rationalisent le processus pour une efficacité et une cohérence accrues - Procédure simple de montage de la pointe en une seule étape - Facile à manipuler sans risque de dommages physiques - Cohérence garantie de l'orientation de la pointe - Propriétés mécaniques et électriques fiables Mesure et analyse automatisées avec fonction de pilotage automatique en un clic Effectuez des mesures et des analyses en un seul clic ! - Mesure automatique multipoint au sein d'un échantillon - Mesure continue de plusieurs échantillons ► Amélioration du débit global Ajustements automatiques avec RealTune® Il RealTune* II : Une fonction pour l'ajustement automatique des paramètres ► Optimisation automatisée des conditions d'imagerie - SIS : Sampling Intelligent Scan ► Excellent suivi de la pointe de l'échantillon, même avec des éléments de surface à rapport d'aspect élevé ► Réduction de l'usure de la sonde et allongement de la durée de vie Analyse corrélative SEM-EDS avec notre fonction de marquage AFM Analysez la même région d'intérêt (ROI) avec SEM, EDS et AFM : plus d'informations = meilleurs résultats !