Microscope STEM HF5000

TEMde laboratoirepour la recherche en matériaux

Le TEM/STEM unique d'Hitachi à 200 kV avec correction d'aberration : l'harmonie parfaite entre la résolution d'imagerie et la performance analytique 0.la résolution spatiale de 078 nm en STEM est obtenue avec une grande capacité d'inclinaison de l'échantillon et des détecteurs EDX à grand angle solide, le tout dans une configuration à objectif unique. Le HF5000 s'appuie sur les caractéristiques du STEM dédié Hitachi HD-2700, notamment le correcteur d'aberration entièrement automatisé d'Hitachi, l'EDX double SDD symétrique et l'imagerie SE corrigée du Cs. Il intègre également les technologies TEM/STEM avancées développées dans la série HF. L'intégration de ces technologies accumulées dans une nouvelle plate-forme TEM/STEM de 200 kV permet d'obtenir un instrument offrant une combinaison optimale d'imagerie et d'analyse sub-Å, ainsi que la flexibilité et les capacités uniques nécessaires pour mener à bien les études les plus avancées. Caractéristiques Correcteur d'aberration sphérique Hitachi à formation de sonde entièrement automatisée Canon à électrons froids FE à haute luminosité et haute stabilité (Cold FEG) Colonne et blocs d'alimentation ultra-stables pour une meilleure performance de l'instrument Capacité d'imagerie simultanée SEM et STEM corrigée en Cs avec une résolution atomique Nouvelle platine à entrée latérale et nouveaux porte-échantillons à haute stabilité Deux détecteurs EDX* de 100 mm2 symétriquement opposés : "Symmetrical Dual SDD*" Nouveau boîtier conçu pour des performances optimales dans les environnements de laboratoire réels Une large gamme de porte-échantillons avancés Hitachi FEG froid à haute luminosité×Haute stabilité×Correcteur d'aberration automatisé Hitachi Le nouveau Cold FEG à haute stabilité utilise une version entièrement repensée de la technologie de source d'électrons à émission de champ froid d'Hitachi, établie de longue date.