Microscope SEM SU series

polyvalentau sol

Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur peut automatiser de nombreuses opérations et utiliser efficacement leurs hautes performances. Le SU3900 est équipé d'une grande chambre à échantillons polyvalente pour permettre l'observation d'échantillons de grande taille. Caractéristiques 1.La chambre à spécimens nettement plus grande permet d'observer des échantillons lourds et surdimensionnés ■Scène robuste pour une flexibilité dans la taille, la forme et le poids des échantillons La séquence de changement d'échantillon permet d'éviter d'endommager le système ou l'échantillon. L'échange des échantillons s'effectue sans ventilation de la chambre d'échantillons, ce qui améliore le rendement. Améliorez la manipulation des échantillons grâce au mode "Stage Free "*. Le Chamber Scope améliore la sécurité des mouvements de la platine*. ■Accroissement de la zone de visualisation - SEM MAP élargit les limites de la navigation dans les échantillons Caméra d'affichage intégrée dans la chambre Navigation aisée dans l'ensemble de la zone observable Rotation orientée vers le détecteur 2.Évolution du marché - Des fonctions automatiques améliorées pour les opérateurs de tout niveau de compétence ■Multiples modes de fonctionnement ■ Fonctions automatiques pour les opérateurs de tout niveau de compétence Algorithmes automatiques améliorés - 3 fois plus rapides (par rapport au modèle Hitachi S-3700N) Fonction de mise au point automatique améliorée Caractéristiques de notre technologie exclusive Intelligent Filament Technology (IFT) : ■Multi Zigzag permet d'observer des zones étendues dans plusieurs domaines. ■Report Creator génère des rapports sur les données acquises. 3.Des solutions intégrées pour diverses applications ■Une variété d'accessoires pouvant être montés sur n'importe lequel des 20 ports de la chambre à échantillons innovante SU3900. ■SEM/EDS Système d'intégration* ■ Détecteurs à haute sensibilité répondant à toutes les exigences d'observation Observation CL à l'aide de l'UVD*