Microscope électronique à balayage à émission de champ SU7000

pour la recherchein-situBF-STEM

Le SU7000 est idéal pour les échantillons lourds ou de grande taille et pour l'intégration d'une large gamme d'accessoires. Ces accessoires comprennent des détecteurs analytiques ou des accessoires de scène pour la manipulation in situ des échantillons (étirement [traction] / compression, chauffage/refroidissement, sondage, coupes sérielles au microtome, etc.) Équipé, comme le SU8700, de l'optique électronique universelle à haute résolution et sans champ d'Hitachi (composée d'un émetteur Schottky et d'un amplificateur de faisceau), le SU7000 dispose également d'une grande chambre d'échantillon analytique avec une platine d'échantillon entièrement rétractable. La platine convient pour des échantillons d'un diamètre maximal de 200 mm, d'une hauteur de 80 mm et d'une masse de 2 kg. Elle est équipée de plusieurs points d'accès à la chambre d'échantillonnage et à la porte de la chambre. La navigation sur la platine est facilitée par une caméra couleur intégrée. Caractéristiques du produit : - Émetteur de champ Hitachi Schottky durable et stable avec un courant de sonde allant jusqu'à 200nA - Excellentes performances d'imagerie - sans champ opposé sur l'échantillon - à partir d'une tension d'accélération de 100 V (10 V en option) jusqu'à 30 kV - Grande chambre d'échantillon analytique avec de nombreux ports d'accès pour les accessoires, et une platine d'échantillon eucentrique pour les échantillons jusqu'à 80 mm de hauteur et 200 mm de diamètre - La distance de travail EDX analytique de 6 mm permet d'effectuer simultanément ou rapidement des travaux analytiques et à haute résolution