Microscope électronique à balayage à émission de champ SU7000

pour la recherchein-situBF-STEM

Le FE-SEM moderne exige non seulement des performances élevées, mais aussi une multitude de fonctionnalités, notamment l'observation de zones étendues, l'analyse in situ, la pression variable, l'imagerie à haute résolution à de faibles tensions d'accélération et la collecte simultanée de signaux multiples. Le SU7000 est conçu pour répondre à ces aspects et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! Caractéristiques Concept clé 1.Capacité d'imagerie polyvalente Le SU7000 excelle dans l'acquisition rapide de signaux multiples pour répondre aux besoins étendus des MEB, de l'imagerie d'un large champ de vision à la visualisation de structures sub-nanométriques et tout ce qui se trouve entre les deux. L'incorporation de systèmes de détection et d'optique électronique de conception nouvelle permet une acquisition simultanée efficace de plusieurs signaux d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés. 2.Imagerie multicanaux Le nombre de détecteurs montés sur le MEB ne cesse d'augmenter, de même que la nécessité d'afficher efficacement toutes les informations recueillies. Le SU7000 est capable de traiter, d'afficher et de sauvegarder jusqu'à 6 signaux simultanément afin de maximiser l'acquisition d'informations. 3.Grande variété de techniques d'observation La chambre à échantillon et le système de vide sont optimisés pour : Grande taille d'échantillon La manipulation de l'échantillon sur plusieurs axes Conditions de pression variables Conditions cryogéniques Chauffage et refroidissement observation in situ 4.Microanalyse Le canon à électrons est équipé d'un émetteur Schottky qui fournit un courant de faisceau allant jusqu'à 200 nA pour répondre à diverses applications de microanalyse.