Microscope CFE-SEM SU8600
pour la recherche3Dau sol

Microscope CFE-SEM - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - pour la recherche / 3D / au sol
Microscope CFE-SEM - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - pour la recherche / 3D / au sol
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
 

Caractéristiques

Type
CFE-SEM
Applications
pour la recherche
Technique d'observation
3D
Configuration
au sol
Source d'électrons
à émission de champ froid
Type de détecteur
d'électrons rétrodiffusés, détecteur de rayons X à dispersion d'énergie
Autres caractéristiques
ultra haute résolution, automatisé
Grossissement

Min: 20 unit

Max: 2 000 000 unit

Résolution spatiale

0,6 nm, 0,7 nm

Description

Le SU8600 est le successeur de la famille éprouvée de MEB à émission de champ Regulus et répond aux exigences les plus élevées pour les applications orientées vers l'imagerie. L'émetteur à champ froid, dont l'émission est presque monochromatique, associé à une lentille d'immersion magnétique, élimine la nécessité de renforcer le faisceau. Il offre donc une résolution supérieure, même à de faibles énergies de faisceau, ainsi qu'une séparation stable et précise des signaux en fonction de l'angle et de l'énergie du faisceau. Le SU8600 CFE-SEM offre également des performances de pointe dans les travaux analytiques utilisant des détecteurs spécifiques. Par exemple, vous pouvez ajouter des détecteurs EDX sans fenêtre pour une analyse optimale des éléments légers. Ceux-ci peuvent être utilisés avec le SU8600 dans toute la gamme d'énergie du faisceau jusqu'à 30keV, et aux distances de travail les plus courtes, à partir de 4 mm, grâce à la lentille d'immersion magnétique. Vous pouvez également combiner le MEB avec le détecteur EDX Bruker FlatQuad avec un angle solide de plus de 1sr pour une efficacité maximale du signal. Des courants d'échantillon jusqu'à 20nA sont disponibles. Caractéristiques du produit : - Émetteur de champ Hitachi très durable, presque monochromatique, combiné à une lentille d'immersion magnétique - Système de détection étendu, configurable de manière flexible, avec filtrage fin de l'énergie et affichage en direct de l'image sur 6 canaux pour une évaluation complète de l'échantillon - S'harmonise bien avec les détecteurs EDX sans fenêtre - Des fonctions fiables et automatisées permettent d'obtenir un MEB facile à utiliser et très performant. Ces fonctions comprennent le réglage des conditions d'observation définies par l'utilisateur, l'excellente mise au point automatique 2D et le stigmateur automatique, etc. - La chambre d'échange d'échantillons permet de charger rapidement et proprement des échantillons d'un diamètre maximal de 150 mm. La platine d'échantillonnage eucentrique à 5 axes offre des plages de déplacement X,Y de 110 mm x 110 mm

---

Salons

Rencontrez ce fournisseur au(x) salon(s) suivant(s)

ESCMID Global 2025
ESCMID Global 2025

11-15 avr. 2025 VIENNA (Autriche)

  • Plus d'informations
    CONTROL 2025
    CONTROL 2025

    6-09 mai 2025 Stuttgart (Allemagne)

  • Plus d'informations
    * Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.