Microscope électronique à balayage à émission de champ SU8700
de laboratoirepour la rechercheau sol

Microscope électronique à balayage à émission de champ - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratoire / pour la recherche / au sol
Microscope électronique à balayage à émission de champ - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratoire / pour la recherche / au sol
Microscope électronique à balayage à émission de champ - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratoire / pour la recherche / au sol - image - 2
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
 

Caractéristiques

Type
électronique à balayage à émission de champ
Applications
de laboratoire, pour la recherche
Configuration
au sol
Source d'électrons
Schottky à émission de champ
Type de détecteur
d'électrons rétrodiffusés, d'électrons secondaires, détecteur de rayons X à dispersion d'énergie
Autres caractéristiques
ultra haute résolution, automatisé, à balayage avec pression variable
Grossissement

Max: 2 000 000 unit

Min: 20 unit

Résolution spatiale

0,6 nm, 0,9 nm

Description

Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage constamment propre pour une imagerie à faible contamination et à haute résolution. En outre, la chambre d'échantillonnage peut être ouverte et vidée à nouveau en quelques minutes pour insérer des accessoires. La platine porte-échantillon peut être déplacée de 110 mm en X et Y. Une caméra couleur intégrée permet une navigation basée sur l'image. Il existe de nombreuses options de connexion pour 2 x EDX, EBSD, STEM, le transfert d'échantillons sous gaz inerte, le nettoyeur de plasma et d'autres accessoires sont disponibles. Caractéristiques du produit : - Émetteur de champ Hitachi Schottky durable et stable avec un courant de sonde allant jusqu'à 200nA - Excellentes performances d'imagerie - sans champ de décélération sur l'échantillon - de 100 V (10 V en option) à 30 kV de tension d'accélération. L'analyse EDX et l'imagerie à haute résolution avec tous les détecteurs sont possibles à une distance de travail de 6 mm - Des fonctions automatiques fiables telles que l'adaptation aux conditions optiques définies par l'utilisateur ou l'autofocus 2D et l'autostigmateur permettent une utilisation pratique des capacités supérieures de l'équipement - Un sas d'échantillonnage de 150 mm de diamètre est fourni en standard. Il permet de changer rapidement d'échantillon tout en gardant la chambre propre sous vide

---

VIDÉO

Salons

Rencontrez ce fournisseur au(x) salon(s) suivant(s)

ESCMID Global 2025
ESCMID Global 2025

11-15 avr. 2025 VIENNA (Autriche)

  • Plus d'informations
    CONTROL 2025
    CONTROL 2025

    6-09 mai 2025 Stuttgart (Allemagne)

  • Plus d'informations
    * Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.