Microscope SEM SU9000 II

TEMSTEMcryoélectronique

Le SU9000 II est une combinaison de MEB à imagerie de surface et de microscope à transmission à balayage (STEM) à résolution de structure intrinsèque, optimisée pour une résolution extrême. Cela est possible grâce à l'optique électronique unique du SU9000 II, qui combine un émetteur à champ froid à émission presque monochromatique avec une lentille d'objectif "inlens". L'échantillon est placé sur un support "à entrée latérale" très stable, pratiquement à l'intérieur de la lentille d'objectif à deux étages. Comme pour le SU8600, un système de détection à deux étages, filtré en énergie, extensible avec un détecteur mobile à rétrodiffusion, est disponible pour l'imagerie MEB. En mode transmission, le signal TE peut être détecté simultanément avec l'imagerie SEM de manière sélective en fonction des angles de diffusion (champ clair, champ sombre variable) avec une résolution de réseau inférieure à 3 Å. Un grand détecteur EDX sans fenêtre avec un angle solide allant jusqu'à 0,7 sr peut être monté à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal de transmission en fonction de l'angle de diffusion - L'émetteur de champ froid combiné à l'optique électronique inlens garantit une résolution SE de 0,4 nm et une résolution TE de 0,34 nm à une tension d'accélération de 30 k - Excellente analyse des éléments légers, grâce au support optimal d'un détecteur EDX sans fenêtre par la lentille d'immersion magnétique. Ou l'utilisation d'un spectromètre de perte d'énergie