Microscope électronique SEM SH-5000M

polyvalentà contraste de phasede table

Détecteur SE (Option - Détecteur ESB) Tension d'accélération variable de 1kV à 30kV Mode multi-vide - Standard / Réduction de la charge Observation de l'image prête en 2 min. 5 axes - X,Y,R, Z, T Ouverture variable à 4 trous (30/50/100/200µm) Options - système EDS, étape de refroidissement, contrôle du vide poussé Facilité d'utilisation : les échantillons non conducteurs peuvent être observés sans revêtement Fonctions d'auto-ajustement Le système peut être prêt dans les 2 minutes suivant l'échange de l'échantillon Compact et flexible Interface graphique conviviale Images de haute qualité Résolution d'image jusqu'à 5 mégapixels Bonne profondeur de champ Compatibilité de plusieurs formats d'images Mesure à l'écran : distance, angle...etc.