Microscope Raman Icon

AFMpour la recherche en matériauxde paillasse

Le système Icon AFM-Raman réunit les techniques complémentaires de la microscopie à force atomique et de la microscopie Raman pour fournir des informations essentielles sur la topographie et la composition chimique d'un échantillon. Lorsque ces techniques sont encore améliorées par des modes AFM avancés, tels que la caractérisation électrique PeakForce TUNA™, une exclusivité Bruker, et la cartographie nanomécanique quantitative PeakForce QNM®, les chercheurs sont en mesure de mieux comprendre les mécanismes qui conduisent à des propriétés matérielles spécifiques. Corrélé Données AFM et u-Raman Permet des mesures co-localisées avec une efficacité et une facilité inégalées. Avancées AFM Aider les chercheurs à mieux comprendre les mécanismes qui conduisent à des propriétés matérielles spécifiques. Éprouvé Établit une nouvelle norme de performance pour les capacités de recherche micro-Raman. Stabilité et flexibilité de la configuration Le système AFM-Raman, composé de l'AFM Dimension Icon® et d'un microscope confocal Raman de qualité recherche (Horiba, LabRam), se trouve sur une plate-forme unique, rigide et anti-vibration. Cette configuration permet au système de conserver l'intégralité des fonctionnalités de chaque instrument, offrant ainsi des performances combinées optimales. Par exemple, la confi guration permet de bénéficier de l'ensemble des mises à jour Icon, des modes AFM et des fonctions de facilité d'utilisation, y compris ScanAsyst®, une exclusivité Bruker. Vous êtes en mesure d'adapter la combinaison de modes la plus efficace à votre application. Intégration transparente de la technique et de l'analyse En quelques secondes, un échantillon peut être transféré entre les deux techniques sans perturbation. Les mesures AFM et spectroscopiques de la même zone d'échantillon sont effectuées consécutivement sans risque de désalignement ou de localisation imprécise des caractéristiques.