Microscope à force atomique Edge™

pour la recherchede paillasse

Dimension Edge™ intègre la technologie PeakForce Tapping® de Bruker pour offrir les plus hauts niveaux de performance, de fonctionnalité et d'accessibilité des microscopes à force atomique (AFM) de sa catégorie. Basé sur la plateforme Dimension Icon, le système Edge a été conçu de fond en comble pour offrir la faible dérive et le faible bruit nécessaires pour obtenir des données prêtes à être publiées en quelques minutes au lieu de quelques heures, le tout à des prix bien inférieurs aux attentes pour de telles performances. Le retour visuel intégré et les paramètres préconfigurés permettent d'obtenir des résultats de niveau expert de manière simple et cohérente, mettant ainsi les capacités et les techniques AFM les plus avancées pour les grands échantillons à la portée de tous les établissements et de tous les utilisateurs. Modulaire microscope et électronique Offre une grande fidélité d'image et une grande souplesse de recherche à un coût modéré. Intégré accès au routage des signaux Permet des mesures personnalisées et des capacités de recherche étendues. Intégré contrôle de scène Permet une navigation rapide des échantillons et des mesures multi-sites efficaces. Précision en boucle fermée Au cœur des capacités de ce système se trouve le célèbre scanner en boucle fermée de Bruker. Incorporant des capteurs de position à compensation de température et piloté par une électronique de commande modulaire à faible bruit, ce composant de balayage de pointe réduit les niveaux de bruit de positionnement en boucle fermée à l'échelle de longueur d'une seule liaison chimique. Grand plateau d'échantillonnage La platine d'échantillonnage Dimension Edge est non seulement motorisée et programmable pour des mesures multi-sites efficaces, mais elle vous permet également de placer plus de types d'échantillons directement sous le scanner AFM en réduisant le temps de préparation.