Microscope AFM Icon®

pour la rechercheau solhaute résolution

Le Dimension Icon® de Bruker apporte les plus hauts niveaux de performance, de fonctionnalité et d'accessibilité AFM aux chercheurs en science et industrie à l'échelle nanométrique. S'appuyant sur la plate-forme AFM pour grands échantillons la plus utilisée au monde, il est l'aboutissement de décennies d'innovation technologique, de retours d'expérience des clients et d'une flexibilité d'application à la pointe de l'industrie. Le système a été conçu de fond en comble pour offrir la faible dérive et le faible bruit révolutionnaires qui permettent aux utilisateurs d'obtenir des images sans artefact en quelques minutes au lieu de quelques heures. Les plus hautes performances scanner à pointe Offre une résolution inégalée pour les grands échantillons avec des niveaux de bruit en boucle ouverte, un plancher de bruit réduit et des taux de dérive <200 pm. Facile productivité Une configuration étonnamment simple, un flux de travail intuitif et un délai d'obtention des résultats rapide pour des données de qualité professionnelle à chaque fois. Polyvalence plateforme en libre accès S'adapte à la plus grande variété d'expériences, de modes, de techniques et de mesures semi-automatiques. CARACTÉRISTIQUES Performances et résolution maximales La résolution supérieure du Dimension Icon, associée aux algorithmes de balayage électronique exclusifs de Bruker, offre à l'utilisateur une amélioration significative de la vitesse et de la qualité des mesures. L'Icon est l'aboutissement de la technologie AFM à balayage de pointe de Bruker, incorporant des capteurs de position à compensation de température pour rendre les niveaux de bruit inférieurs à l'angström pour l'axe Z, et à l'angström pour l'axe XY. Il s'agit d'une performance extraordinaire pour un système de balayage de 90 microns à grand échantillon, qui dépasse les niveaux de bruit en boucle ouverte des AFM à haute résolution.