Le système de microscope à force atomique (AFM) FastScan® de Dimension est spécialement conçu pour scanner rapidement sans perte de résolution, perte de contrôle de la force, complexité accrue ou coûts d'exploitation supplémentaires. Avec FastScan, vous obtenez immédiatement des images AFM avec la haute résolution attendue d'un AFM haute performance. Qu'il s'agisse d'un balayage à plus de 125 Hz lors de l'examen d'un échantillon pour trouver la région d'intérêt ou d'une vitesse de 1 seconde par image dans l'air ou dans un fluide, FastScan redéfinit l'expérience de l'AFM.
Sans compromis
performance à grande vitesse
Fournit la meilleure résolution à tout moment, indépendamment de la taille de l'échantillon.
Temps réel
dynamique à l'échelle nanométrique
Fournit une vitesse de balayage et une stabilité optimales pour la visualisation directe du comportement dynamique dans l'air ou les fluides.
Automatisé
l'acquisition des données et l'analyse
Le fonctionnement du système est étonnamment simple tout en améliorant la productivité, ce qui vous permet de vous concentrer sur votre recherche.
CARACTÉRISTIQUES
Référence en matière de vitesse et de résolution élevées
Dimension FastScan est le premier et le seul système de balayage de pointe à grande vitesse qui atteint des taux de balayage d'images par seconde sans compromettre la résolution ou la performance du système - indépendamment de la taille de l'échantillon. Aucun autre AFM à grande vitesse n'offre l'accès à de grands échantillons comme le FastScan. Associé au PeakForce Tapping®, le système permet une mesure instantanée de la force avec une boucle de contrôle linéaire, ce qui permet une résolution dimensionnelle et mécanique des défauts ponctuels, et pas seulement sur les cristaux durs et plats.
Productivité exceptionnelle
Chaque facette du Dimension FastScan - de l'accès à la pointe et à l'échantillon jusqu'aux paramètres logiciels préconfigurés - a été spécialement conçue pour un fonctionnement sans problème et étonnamment simple.
---