Microscope optique NanoWizard® 4 XP

à force atomiquede laboratoirede paillasse

Le microscope à force atomique NanoWizard® 4 XP NanoScience offre une résolution atomique et une grande plage de balayage de 100 µm en un seul système. Il permet un balayage rapide avec des taux allant jusqu'à 150 lignes/seconde et une intégration transparente avec des techniques optiques avancées. Une large gamme de modes et d'accessoires pour le contrôle de l'environnement, la cartographie des propriétés nanomécaniques, électriques, magnétiques ou thermiques, en fait le système le plus flexible disponible sur le marché aujourd'hui. Précision Étude des propriétés des matériaux Mesures mécaniques, thermiques et électriques : Visualiser la cristallisation, la fusion, la croissance et la séparation des phases. Modifier les échantillons par stimulation optique, champ magnétique ou tension. Simplifié Plate-forme multi-utilisateurs idéale Options et fonctions avancées pour les utilisateurs experts. Gamme étendue d'accessoires pour l'étude des films conducteurs, des gradients de force magnétique et des forces électrostatiques. Performances 150 lignes/seconde, plage de balayage de 100µm Configuration simplifiée pour une productivité accrue. Idéal pour les expériences dynamiques d'échantillons très structurés. Déplacement rapide et facile autour de l'échantillon. Flexibilité maximale combinée à des performances extrêmes Le NanoWizard 4 XP NanoScience est équipé d'une série de nouvelles fonctionnalités, notamment : PeakForce Tapping® pour une imagerie facile Option de balayage rapide avec jusqu'à 150 lignes/seconde Technologie NestedScanner pour l'imagerie à grande vitesse de structures de surface jusqu'à 16,5 µm avec une résolution et une stabilité exceptionnelles Nouvelle fonctionnalité de pavage pour la cartographie automatisée de grandes zones d'échantillons Logiciel V7 avec une nouvelle interface utilisateur révolutionnaire basée sur le flux de travail Logiciel DirectOverlay™ 2 pour une intégration parfaite et une corrélation des données avec les plateformes de microscopie à fluorescence avancées