Spectromètre AFM IconIR

infrarougeFT-IRpour nanotechnologie

Le système Dimension IconIR™ de Bruker pour grands échantillons combine la spectroscopie infrarouge (IR) à l'échelle nanométrique et la microscopie à sonde à balayage (SPM) sur une seule plateforme pour offrir les capacités de spectroscopie, d'imagerie et de cartographie des propriétés les plus avancées disponibles pour les chercheurs universitaires et les utilisateurs industriels. Intégrant des décennies de recherche et d'innovation technologique, IconIR offre des performances inégalées basées sur les capacités de mesure AFM les plus performantes de l'industrie du Dimension Icon®. Le système permet la microscopie corrélative et l'imagerie chimique avec une résolution améliorée et une sensibilité monocouche, tandis que son architecture unique à grand échantillon offre une flexibilité ultime pour la plus large gamme d'applications. Productif flux de travail guidé et scène programmable Fournit un débit de mesure maximal grâce à l'AFM-IR intrinsèquement facile à utiliser. Multimodalité cartographie chimique et des propriétés Fournit des données quantitatives nanochimiques, nanomécaniques et nanoélectriques. Sous-5nm imagerie AFM-IR photothermique brevetée Permet la plus haute résolution, la meilleure caractérisation du rapport signal/bruit avec une sensibilité monocouche. Capacités et performances nanoIR uniques et inédites Dans un seul système, IconIR offre les meilleures performances en matière de spectroscopie infrarouge à l'échelle nanométrique, de résolution d'imagerie chimique et de sensibilité monocouche. Seule Dimension IconIR offre : Spectroscopie nanoIR haute performance avec corrélation FTIR précise et reproductible, résolution chimique <5 nm et sensibilité monocouche Imagerie chimique corrélative avec les modes nanomécanique et nanoélectrique PeakForce Tapping® Imagerie AFM haute performance et souplesse d'échantillonnage inégalée avec hébergement de grands échantillons*