Microscope à force atomique attoAFM I

de laboratoirecompact

support en porte-à-faux sans alignement → remplacement de la pointe en moins de 2 minutes détection interférométrique de la déviation du cantilever → jauge d'amplitude intégrée balayage en boucle fermée (en option) → récupération facile des régions d'intérêt L'attoAFM I est un microscope à force atomique compact conçu en particulier pour des applications à basse et ultra-basse température et dans des champs magnétiques élevés. L'instrument fonctionne en balayant l'échantillon sous un cantilever fixe et en mesurant sa déviation avec une très grande précision à l'aide d'un interféromètre optique à fibre. Cette technique de détection de la déflexion présente l'avantage d'intégrer une jauge de longueur pour l'amplitude de l'oscillation du cantilever, puisque le contraste de l'interféromètre est directement proportionnel à la longueur d'onde du laser. Le mode contact et le mode sans contact sont tous deux applicables. Il est principalement utilisé pour la microscopie à force magnétique (MFM), comme l'imagerie des vortex sur les supraconducteurs ou l'imagerie des domaines magnétiques à température variable, et pour la microscopie à force piézoélectrique (PFM) sur les matériaux ferroélectriques et multiferroïques. Les autres modes de mesure AFM pris en charge sont la microscopie à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force conductrice (c-AFM), la microscopie à force électrique (EFM) et d'autres modes d'imagerie. Pour plus d'informations, veuillez consulter nos principes fondamentaux de la microscopie. La conception rigide du module du microscope permet également des combinaisons avec des systèmes de refroidissement à tubes d'impulsion sans cryogène pour des applications où l'hélium liquide n'est pas disponible ou souhaité.