Ellipsomètre spectroscopique PHE 102

de laboratoire

Angstrom Advanced propose une gamme complète d'ellipsomètres pour les mesures d'épaisseur de couches minces, la caractérisation optique de l'indice de réfraction et l'analyse du coefficient d'extinction (n & k). Nos ellipsomètres peuvent être utilisés pour de nombreuses applications différentes et sont utilisés dans certains des laboratoires les plus prestigieux tels que le MIT, la NASA, UC Berkeley, l'Université de Yale, l'Université de Duke, le NIST et bien d'autres encore. Mesure rapide dans la gamme UV/VIS/NIR de 250 - 1100 nm avec détecteur à barrettes de diodes ou spectromètre à moteur (monochromateur) Extension optionnelle de la gamme spectrale dans le proche infrarouge (700 - 1700 nm) ou (700 - 2100 nm) Extension optionnelle de la gamme UV-VIS (190 - 1100 nm) Le polariseur rotatif permet de mesurer avec précision n'importe quel état de polarisation Analyseur à balayage progressif pour une acquisition à grande vitesse et à faible bruit Angle variable de 10 à 90° un angle automatisé de 10 à 90° est également disponible Détermination rapide de l'épaisseur et de l'indice de réfraction d'échantillons simples ou multicouches Les données Psi et Delta sont mesurées automatiquement et ajustées par le logiciel PHE-102 Le logiciel PHE-102 est le programme le plus complet disponible pour l'acquisition et l'analyse des données. Il combine des algorithmes d'ajustement mathématique de pointe avec une large sélection d'options de modélisation pour une analyse rapide et précise des données. Un logiciel d'ellipsométrie spectroscopique avancé Bibliothèque intégrée de propriétés des matériaux, comprenant plusieurs centaines de modèles de matériaux Mélange de nouveaux matériaux utilisant des propriétés connues